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| DOF: 01/03/2022 |
AVISO de consulta pública del Proyecto de Norma Mexicana PROY-NMX-R-J-62622-SCFI-ANCE-2020 AVISO de consulta pública del Proyecto de Norma Mexicana PROY-NMX-R-J-62622-SCFI-ANCE-2020. Al margen un sello con el Escudo Nacional, que dice: Estados Unidos Mexicanos.- ECONOMÍA.- Secretaría de Economía.- Unidad de Normatividad, Competitividad y Competencia.- Dirección General de Normas. AVISO DE CONSULTA PÚBLICA DEL PROYECTO DE NORMA MEXICANA PROY-NMX-R-J-62622-SCFI-ANCE-2020, NANOTECNOLOGÍAS-DESCRIPCIÓN, MEDICIÓN Y PARÁMETROS DE CALIDAD DIMENSIONAL DE REJILLAS ARTIFICIALES (CANCELARÁ A LA NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014). La Secretaría de Economía, por conducto de la Dirección General de Normas, con fundamento en lo dispuesto por los artículos: 34, fracciones II, XIII y XXXIII, de la Ley Orgánica de la Administración Pública Federal; 4 de la Ley Federal de Procedimiento Administrativo; 3, fracción X, 39, fracciones III y XII, 51-A, 51-B, 54 y 66 fracción III de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización; 43, 44, 46 y 47 del Reglamento de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización; Tercero y Cuarto Transitorios del Decreto por el que se expide la Ley de Infraestructura de la Calidad y se abroga la Ley Federal sobre Metrología y Normalización; y 36, fracciones I, IX y XII, del Reglamento Interior de esta Secretaría, publica el Aviso de Consulta Pública del Proyecto de Norma Mexicana que se enuncia a continuación, mismo que ha sido elaborado y aprobado por el Comité Técnico de Normalización Nacional en Nanotecnologías (CTNNN). De conformidad con lo previsto por el artículo 51-A de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización, este Proyecto de Norma Mexicana, se publica para Consulta Pública a efecto de que, dentro de los siguientes 60 días naturales, los interesados presenten sus comentarios ante el Comité Técnico de Normalización Nacional en Nanotecnologías que lo propuso, en el Centro Nacional de Metrología (CENAM), ubicado en Kilómetro 4.5, Carretera a Los Cués, Municipio El Marqués, Código Postal 76246, Estado de Querétaro, teléfono (01) 14422110500 y/o al correo electrónico: frmartin@cenam.mx. El texto completo del documento puede ser consultado en la Dirección General de Normas de la Secretaría de Economía, ubicada en Calle Pachuca número 189, Piso 12, Colonia Condesa, Demarcación Territorial Cuauhtémoc, Código Postal 06140, Ciudad de México, a través de una cita gestionada al correo electrónico industriasdiversasdgn@economia.gob.mx. Número de SINEC-20220105105358301. | CLAVE O CÓDIGO
| TÍTULO DEL PROYECTO DE NORMA MEXICANA
| | PROY-NMX-R-J-62622-SCFI-ANCE-2020
| NANOTECNOLOGÍAS-DESCRIPCIÓN, MEDICIÓN Y PARÁMETROS DE CALIDAD DIMENSIONAL DE REJILLAS ARTIFICIALES (CANCELARÁ A LA NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014). | | Síntesis
Este Proyecto de Norma Mexicana especifica la terminología genérica aplicable a los parámetros de calidad globales y locales de rejillas artificiales expresados en términos de desviaciones respecto a las posiciones nominales de los elementos geométricos de la rejilla, y orienta sobre la categorización de métodos de medición y evaluación aplicables a la calibración y caracterización de rejillas artificiales. Este Proyecto de Norma Mexicana intenta facilitar la comunicación entre fabricantes, usuarios y laboratorios de calibración relacionados con la caracterización de los parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales usadas en nanotecnología. Este Proyecto de Norma Mexicana sirve de soporte para el aseguramiento de la calidad en la producción y el uso de rejillas artificiales en diferentes áreas de aplicación en nanotecnología. Aun cuando las definiciones y métodos descritos son universales a una gran variedad de rejillas, el documento se enfoca en rejillas unidimensionales (1D) y bidimensionales (2D). | Atentamente Ciudad de México, a 11 de enero de 2022.- Director General de Normas y Secretario Ejecutivo de la Comisión Nacional de Infraestructura de la Calidad, Lic. Alfonso Guati Rojo Sánchez.- Rúbrica.
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